手掌式紫外輻照儀UV-313/340 手掌式紫外輻照儀UV-313/340采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測(cè)器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。 技術(shù)參數(shù): 產(chǎn)品特點(diǎn): * 光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正* 數(shù)字液晶顯示，帶背光* 手動(dòng)/自動(dòng)量程切換* 數(shù)字輸出接口（USB冗余供電）* 低電量提醒* 自動(dòng)延時(shí)關(guān)機(jī)* 有數(shù)字保持* 輕觸按鍵操作，蜂鳴提示UV-313/340型紫外輻照計(jì)主要技術(shù)指標(biāo)： | 探頭（二選其一）： | UV-313nm 探頭 | UV-340nm 探頭 | | | 波長范圍及峰值波長: | λ：(290～340)nm；λP＝313nm | λ：(315～370)nm；λP＝340nm | | | 紫外帶外區(qū)雜光： | UV313：小于0.05% | UV340：小于0.05% | | | 輻照度測(cè)量范圍： | (0.1～199.9×103) μW/cm2 | | | 相對(duì)示值誤差： | ±10%（相對(duì)與NIM標(biāo)準(zhǔn)） | | | 角度響應(yīng)特性： | ±5%(α ≤10°) | | | 線性誤差： | ±1% | | | 短期不穩(wěn)定性： | ±1%（開機(jī)30min后） | | | 響應(yīng)時(shí)間： | 1秒 | | | 使用環(huán)境： | 溫度(0～40)℃，濕度＜85%RH | | | 尺寸和重量： | 160mm×78mm×43mm；0.2kg | | | 電源： | 常規(guī)使用6F22型9V積層電池一只
亦可使用數(shù)據(jù)線連接USB接口、5V電源適配器供電
整機(jī)功耗 ＜0.1VA |
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